三坐標(biāo)測量機(jī)使用方法
更新時(shí)間：2024-02-19 點(diǎn)擊次數(shù)：2462
三坐標(biāo)測量機(jī)使用方法
三坐標(biāo)測量儀簡稱CMM，自六十年代中期第一臺三坐標(biāo)測量儀問世以來，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測技術(shù)的發(fā)展，為測量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸并用式測量，接觸測量常于測量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測量機(jī)應(yīng)用軟件在被測物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐（手動/DCC）決定了屏幕上可選用的“掃描"（SCAN）選項(xiàng)。若用DCC方式測量，又具有CAD文件，那么掃描方式有“開線"（OPEN LINEAR）、“閉線"（CLOSED LINEAR）、“面片"（PATCH）、“截面"（SECTION）及“周線"（PERIMETER）掃描。若用DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 “開線"（OPEN LINEAR）、“閉線"（CLOSED LINEAR）和“面片"（PATCH）掃描方式。若用手動測量模式，那么只能用基本的“手動觸發(fā)掃描"（MANUL TTP SCAN）方式。若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那么可用選項(xiàng)為“固定間隔"（FIXED DELTA）、“變化間隔"（VARIABLE DELTA）、“時(shí)間間隔"（TIME DELTA）和“主體軸向掃描"（BODY AXIS SCAN）方式。
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